檢索結果:共1筆資料 檢索策略: "發光二極體".ckeyword (精準) and ckeyword.raw="瑕疵檢測"
個人化服務 :
排序:
每頁筆數:
已勾選0筆資料
1
本研究主要針對發光二極體(Light Emitting Diode, LED)晶粒微觀瑕疵進行辨識與分類,本研究LED晶粒檢測分為三個部分,其檢測順序為LED晶粒外形檢測、LED晶粒電極區檢測以及L…